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INTEGRATED CIRCUIT DEFECT-SENSITIVITY: THEORY AND COMPUTATIONAL MODELS

Pineda De Gyvez, José

SPRINGER

9781461363835

Número de colección: 208

Lingua: INGLES

Colección The Springer International Series in Engineering and Computer Science
Encadernación Outro formato libro
PVP
103,99
Colección The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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